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杭州高裕電子科技股份有限公司

產品展示

Product Demonstration

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高溫柵反偏老化測試系統(tǒng)(單管、Ta型、保險絲保護)

符合標準:

AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等標準。

適用范圍:

適用于各種封裝形式的場效應管、IGBT單管等器件進行高溫柵極反偏試驗。

技術特點:

實時監(jiān)測每個試驗器件的漏電流,漏電流最小監(jiān)控值1nA。

全過程試驗數(shù)據(jù)保存于硬盤中,可輸出Excel試驗報表和繪制全過程漏電流IR變化曲線。


技術性能

表格 p17.png