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杭州高裕電子科技股份有限公司

產品展示

Product Demonstration

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IGBT模塊功率循環(huán)老化測試系統(tǒng)

符合標準:

IEC60749 、AQG324 等試驗標準。

適用范圍:

適用于各種封裝形式的大功率IGBT模塊、二極管模塊的功率循環(huán)試驗。

技術特點:

嚴格滿足△Tj≥100℃。 

可實現(xiàn)秒級和分鐘級循環(huán)試驗。

檢測顯示每次循環(huán)的△Tj。


技術性能

表格 p32.png